Máy đo Ellipsome thử nghiệm LCP-25
Giới thiệu
Máy đo phân cực hình elip bằng tay sử dụng phương pháp tắt để đo độ dày và chỉ số khúc xạ của phim, đồng thời điều chỉnh độ lệch và góc lệch của quá trình kiểm tra theo cách thủ công. Ellipsometry được sử dụng rộng rãi trong phép đo màng mỏng điện môi trên chất nền rắn. Trong phương pháp đo độ dày của màng có thể đo độ mỏng nhất và độ chính xác cao nhất.
Thông số kỹ thuật
| Sự miêu tả | Thông số kỹ thuật |
| Dải đo độ dày | 1 nm ~ 300 nm |
| Phạm vi góc sự cố | 30º ~ 90º, Lỗi ≤ 0,1º |
| Bộ phân cực & Góc giao nhau của Bộ phân tích | 0º ~ 180º |
| Quy mô góc đĩa | 2º trên mỗi thang đo |
| Tối thiểu. Đọc Vernier | 0,05º |
| Chiều cao tâm quang học | 152 mm |
| Đường kính giai đoạn làm việc | Φ 50 mm |
| Kích thước tổng thể | 730x230x290 mm |
| Cân nặng | Khoảng 20 kg |
Danh sách bộ phận
| Sự miêu tả | Qty |
| Đơn vị Ellipsometer | 1 |
| Laser He-Ne | 1 |
| Bộ khuếch đại quang điện | 1 |
| Ô ảnh | 1 |
| Màng silica trên nền silicon | 1 |
| CD phần mềm phân tích | 1 |
| Cẩm nang hướng dẫn | 1 |
Viết tin nhắn của bạn ở đây và gửi cho chúng tôi
